Добрый день, коллеги! Возможно подобрать литературу по теме "Спектральная эллипсометрия для исследования диффузии в гетероструктурах на основе AlGaAs"? Как воспользоваться вашими ресурсами? Например, диссертациями? Порядок, сроки, стоимость? Спасибо.
Добрый день, коллеги! Возможно подобрать литературу по теме "Спектральная эллипсометрия для исследования диффузии в гетероструктурах на основе AlGaAs"? Как воспользоваться вашими ресурсами? Например, диссертациями? Порядок, сроки, стоимость? Спасибо.
Ответ
Здравствуйте!
Рекомендую Вам начинать свой поиск с Электронного каталога (ЭК) РГБ, который формируется на основе обязательного экземпляра.
ЭК РГБ доступен с домашнего компьютера. Вы можете провести поиск самостоятельно. Наберите, пожалуйста, в поисковой строке Электронного каталога (ЭК) РГБ 2-3 ключевых понятия, усекая окончания слов знаком *. Например: AlGaAs
1. Деребезов, Илья Александрович
Генерационные характеристики лазеров с вертикальным резонатором на основе гетероструктур InGaAs-AlGaAs : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Деребезов Илья Александрович; [Место защиты: Ин-т физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН] .- Новосибирск , 2013. - 148 с.ил. - Библиогр.: с. 133-141.
Шифры: [Отд.дисс.(Химки)] 61 13-1/683
2. Козырев, Антон Андреевич
Разработка диэлектрических покрытий для повышения функциональных и эксплуатационных характеристик полупроводниковых приборов на основе гетероструктур AlGaAs/GaAs : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Козырев Антон Андреевич; [Место защиты: Сарат. гос. техн. ун-т] .- Саратов , 2011 - 19 с.
Уважаемый пользователь, к сожалению, Ваш запрос сформулирован слишком узко для выполнения в рамках Виртуальной справочной службы. Я Вам предлагаю только два источника из ЭК общего характера, чтобы Вы поняли алгоритм поиска.
К сожалению, доступ к основному массиву электронных версий (депозитарию) ограничен, он возможен только в стенах Библиотеки.
Если Вы хотитет ознакомиться с содержанием небольшой части текста в начале произведения, то можно приобрести лицензию на программу защищенного просмотра DefView. Но помните, что при приобретении данной программы Вы можете бесплатно просматривать ТОЛЬКО 10% в начале каждой диссертации или автореферата. Для ознакомления с полным текстом Вам необходимо прийти в библиотеку (А-115, А-116).
Чтобы получить доступ к Электронной библиотеке Вам необходимо:
1. зарегистрироваться на сайте РГБ: http://www.rsl.ru/register/
2. купить лицензионную версию программы система защищённого просмотра DefView: http://www.shoft.ru/products/defview/
3. активировать программу: http://www.rsl.ru/register/help/
Если вы не живете в Москве, то можете воспользоваться Виртуальными читальными залами. Полная информация на сайте: http://diss.rsl.ru/?menu=catalog&lang=ru
Рекомендуем Вам обратитьс к БД (база данных) ВИНИТИ.
3. Макеев М. О., Иванов Ю А., Мешков С. А.
Исследование деградационных явлений в наноразмерных AlAs/GaAs гетероструктурах методом ИК-спектроэллипсометрии
Кл. слова: Гетероструктуры, AlAs/GaAS, МЛЭ, деградация, диффузия
2013-01 AB20 БД ВИНИТИ
4. Цырлин Г. Э., Дубровский В. Г., Сибирев Н. В., Сошников И. П., Самсоненко Ю. Б., Тонких А. А., Устинов В. М.
Диффузионный механизм роста нановискеров GaAs и AlGaAs в методе молекулярно-пучковой эпитаксии
Кл. слова: SIFE
2006-01 FI09 БД ВИНИТИ
5. Kim T. J., Jung Y. W., Kim Y. D.
Изучение интерфейсной области многослойной системы полупроводников методом эллипсометрии. Spectroscopic ellipsometric analysis of interfaces in semiconductor multilayers
Кл. слова: Полупроводники AIIIBV, арсениды, AlGaAs, границы раздела, многослойная система, эллипсометрия
2007-06 AB05 БД ВИНИТИ
Ознакомиться с полным библиографическим описанием записей №№ 3-5 и продолжить свой поиск Вы можете по Реферативным журналам (РЖ) или БД ВИНИТИ, например, в Отделе справочно-библиографического обслуживания РГБ (комн. А-212, А-211).